기초전자Engineering 실험 - 중첩의 원리(law of superposition)
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작성일 23-01-31 14:37
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※이번 test(실험) 구성 회로가 간단하여 지난 test(실험) 들과는 달리 작은 범위의 오차가 발생하였다. test(실험) 을 통해 여러개의 독립전원을 포함하고 있는 선형회로에서 회로내의 어떤점에서의 전류 또는 전압은 각 독립전원이 단독으로 있을 때의 component을 대수적으로 합함으로써 얻어진다는것을 알수 있었다.
3.실험재료
1.실험제목
- 디지털 멀티미터, 전원공급기, 100Ω, 220Ω, 330Ω, 470Ω, 1kΩ, 3.3kΩ
다. 3.실험재료 - 디지털 멀티미터, 전원공급기, 100Ω, 220Ω, 330Ω, 470Ω, 1kΩ, 3.3kΩ
또한 중첩의 원리를 이해함으로써 앞으로 적용하게 될 많은 회로에 대해 보다 쉽게 복잡한 회로망을 해석할 수 있게 되었고 각 전원이 소자에 얼마만큼의 기여를 하는지 알 수 있었다.
설명
2) 중첩의 원리를 test(실험) 적으로 증명한다.
- 디지털 멀티미터, 전원공급기, 100Ω, 220Ω, 330Ω, 470Ω, 1kΩ, 3.3kΩ
2.test(실험) 目標(목표)
1) 여러 개의 전원이 있는 선형회로 해석에 흔히 사용되는 중첩의 원리(law of superposition)를 이해하고, 이의 응용능력을 키운다.
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2.실험목표
1) 여러 개의 전원이 있는 선형회로 해석에 흔히 사용되는 중첩의 원리(law of superposition)를 이해하고, 이의 응용능력을 키운다. 2) 중첩의 원리를 실험적으로 증명한다.
1.test(실험) title proper(제목)
1.실험제목 - 중첩의 원리(law of superposition) 2.실험목표 1) 여러 개의 전원이 있는 선형회로 해석에 흔히 사용되는 중첩의 원리(law of superposition)를 이해하고, 이의 응용능력을 키운다.
3.test(실험) 재료
- 중첩의 원리(law of superposition)
- 중첩의 원리(law of superposition)
기초전자Engineering 실험 - 중첩의 원리(law of superposition)
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2) 중첩의 원리를 실험적으로 증명한다.
기초전자공학,중첩의 원리,law of superposition
- 이번 test(실험) 은 복잡한 회로망(network)을 보다 간단하게 해석할 수 있는 중첩의 원리에 관한 test(실험) 이었다.
